エンジニアリング

SakuRF

RF測定データから、デバイスへの理解を。

RF測定データの解析、ディエンベディング、デバイス特性評価を支援するソフトウェア。初回リリースは、SakuRF Characterizeのワークフローを中心に開発しています。

開発中公開目標：2026年12月

機能と公開時期は開発目標です。検証の結果により変更される場合があります。

測定したネットワークの確認、治具の影響の除去、デバイスパラメーターの抽出を、デスクトップで進めたいRFエンジニアや研究者に向けて開発しています。

1ポートおよび2ポートの測定データを読み込み、確認、可視化、書き出しを行います。

対応する校正構造と手法を使って、パッドや治具の影響を除去します。

伝搬、減衰、特性インピーダンスなど、伝送線路のパラメーターを抽出します。

インダクタンス、キャパシタンス、Q値、共振特性など、素子の特性を評価します。